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描述：概述本儀器主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定方法）；ASTM D5470-2005（薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測試標(biāo)準(zhǔn)）等。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-04-15訪問量
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
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導(dǎo)熱系數(shù)測試儀/導(dǎo)熱系數(shù)檢測儀 型號：XK-DRL-III
XK-DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測試儀-（熱法）
、 概述本儀器主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定方法）；ASTM D5470-2005（薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測試標(biāo)準(zhǔn)）等。
儀器點：帶自動加壓，自動測厚裝置，并連計算機實現(xiàn)自動控制。儀器采用6點溫度梯度檢測，提了測試度。可檢測不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個參數(shù)。廣泛應(yīng)用在等院校，科研單位，質(zhì)檢和廠的材料導(dǎo)熱分析檢測。
二、 主要參數(shù) 1.試樣大小：≤Φ30mm； 2.試樣厚度：0.02-20mm； 3.熱控溫范圍：室溫-99.99℃； 4冷控溫范圍：0-99.0℃； 5.導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍：0.05～45 W/m*k 6.熱阻測試范圍：0.05～0.000005m2*K/W 7． 壓力測量范圍：0～1000N可調(diào)； 8． 位移測量范圍：0～3.00mm； 9． 測試度：優(yōu)于3％； 10． 實驗方式：a、試樣不同壓力下熱阻測試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測試。c、接觸熱阻測試。 11． 計算機自動測試，并實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。
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