1:數(shù)字式自動旋光儀/自動旋光儀 型號:HAD-WZZ-3

點：采用光電檢測和微機(jī)控制，128X64位元液晶顯示，可測試比旋度、旋光度、糖度、可自動復(fù)測并計算均值和均方根，配有RS232接口，可向PC機(jī)傳送數(shù)據(jù)。

數(shù)字式自動旋光儀/參數(shù)：

測量范圍：-45°~ +45°，-120°Z ~ +120°Z
zui小讀數(shù)值：0.001°
準(zhǔn)確度：±（0.01°+測量值×0.05%），±（0.03°Z+測量值×0.05%）
重復(fù)性：≤0.003°，≤0.03°Z
可測樣品zui低透過率：10%
質(zhì)量：28kg
外形尺寸：600mm×310mm×212mm  

2:側(cè)面光檢測儀 側(cè)面光測試儀 型號：QXH-CM-3

側(cè)面光檢測儀 側(cè)面光測試儀用途

QXH-CM-3型側(cè)面光檢測儀是依據(jù)中華人民共和家標(biāo)準(zhǔn)GB11614-2009《浮法玻璃》要求，用于檢測浮法玻璃外觀缺陷的輔助設(shè)備，與外觀檢測儀配合使用，可以測試浮法玻璃各種缺陷的數(shù)量和尺寸，是浮法玻璃企業(yè)的質(zhì)檢設(shè)備。

二、側(cè)面光檢測儀 側(cè)面光測試儀原理

QXH-CM-3型側(cè)面光檢測儀在封閉的燈箱內(nèi)裝有碘鎢燈，燈箱上有可以開啟的狹縫，玻璃橫插入狹縫向前運(yùn)行，光線從玻璃斷面射入玻璃，由于玻璃上各種缺陷對光線的漫射，缺陷在玻璃板面上呈現(xiàn)亮點，記下亮點的位置，用外觀檢測儀和讀數(shù)顯微鏡檢測缺陷的種類和大小。

三、側(cè)面光檢測儀 側(cè)面光測試儀參數(shù)

1、光源：碘鎢燈 率：1000W

2、狹縫開啟的zui大寬度：20㎜

3、狹縫與光源間距：100㎜

4、設(shè)備尺寸：1330㎜×750㎜×900㎜

5、電源：AC.220V

3:壓電加速度傳感器/壓電式壓力傳感器 型號:HAD/8602

標(biāo)性 型號
HAD/8601 HAD/8602 HAD/8603
量程 ±50，±100g ±200，±500g ±300，±500g
靈敏度 ～60，～30pC/g ～25，～10pC/g ～2，～1pC/g
過載 能力 振動 150%F.S 150%F.S 150%F.S
沖擊 2000g，3000g 5000g 5000g，7000g
固有頻率 6kHz，15kHz 8kHz，12kHz 12kHz，15kHz
非線性 ≤5% ≤5% ≤5%
橫向靈敏度比 ≤5% ≤5% ≤5%
作溫度 -45~80℃ -45~80℃ -45~80℃
安裝方式 M5螺柱 M5螺柱 M5螺柱
應(yīng)用 通用性 通用性 溫、頻振動測量

4:手動涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 型號：HAD-III

薄層手動涂敷器/手動涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 , 共有三種型號 :

HAD-I 型為涂敷 10cm 寬薄層板，配有個小型 10cm

寬涂敷框，制備5x10,10x10,20×10cm薄層板

HAD-II 型為涂敷 20cm 寬薄層板，配有個大型 20cm

寬涂敷框，制備板規(guī)格為 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄層板。

HAD-III 涂敷器 綜合了 I 型和 II 型的優(yōu)點和結(jié)構(gòu)方式,

配有大小兩種涂敷框，在個涂板座上

可成上述各種規(guī)格薄層板的制備作 薄層板均能涂敷

材質(zhì)：鋁合金噴塑，*生銹，經(jīng)久耐用。。涂敷框可調(diào)層厚度0.02-2mm。

詳細(xì)說明 鋪板.doc

5: 靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導(dǎo)電微晶靜電場描繪儀型號:HAD/GVZ-3

靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導(dǎo)電微晶靜電場描繪儀主要參數(shù)：

1.HAD/GVZ-3型為雙層，同步探針，內(nèi)置四種電板（同心圓、平行導(dǎo)線、聚焦、劈尖形或飛機(jī)機(jī)翼電場）。
2.規(guī)格為410mm*240mm,100mm,K4-2導(dǎo)線。
3.微晶導(dǎo)電層的均勻性，實驗值誤差為小于2%。
4.電源輸出范圍（直）為7.00v—13.00V，分辨率為0.01V。
5.采用多圈電位器調(diào)節(jié)電壓，調(diào)節(jié)細(xì)度可達(dá)0.01V。

四種電（配數(shù)碼管電源3位半）
（同心圓R為7cm，r為1cm, 其他電距離均為10cm）
1． 靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導(dǎo)電微晶靜電場描繪儀儀器簡介
本儀器采用各向均勻?qū)щ姷奈⒕?dǎo)電板,在其上面安置些不同的金屬電。當(dāng)有直電經(jīng)兩個電在導(dǎo)電板上通過時，由于微晶導(dǎo)電板相對于金屬導(dǎo)體電導(dǎo)率低得多，故在兩個電間沿電線會存在不同的電勢，這種不同的電勢可用數(shù)字電壓表直接測出來。分析各測量點電勢的變化規(guī)律，就可間接地得知相似的靜電場中電勢分布規(guī)律。
2．使用方法
（1）接線：
靜電場用穩(wěn)壓電源輸出+（紅）接線柱用紅色電線連接描繪架（紅）、-（黑）接線柱用黑色電線連接描繪架（黑）接線柱。用穩(wěn)壓電源探針輸入+（紅色）接線柱用紅色電線連接探針架連接線柱。將探針架好，并使探針下探頭置于導(dǎo)電微晶電上，啟動開關(guān)，校正，后測量。
（2）測量：
開啟測量開關(guān)，如數(shù)字顯字為0 V，則移動探針架至另電上，數(shù)字顯10 V，般常用10 V，便于運(yùn)算。然后縱橫移動探針架，則電源電壓表頭顯示讀數(shù)隨著運(yùn)動而變化。如要測0 V～10 V間的何條等勢(位)線，般可選0 V～10 V間某電壓數(shù)據(jù)相同的8～10個點，再將這些點連成光滑的曲線即可得到此等勢(位)線。
（3）記錄：
實驗報告都需要記錄，以備學(xué)生計算或驗證，對模擬法作深刻研究，則需在描繪架上鋪平白紙，用橡膠磁條吸住，當(dāng)表頭顯示讀數(shù)認(rèn)為需要記錄時，輕輕按下，即能清晰記下小點，般所需記錄電壓請參閱講義或由課教師定奪，為實驗清晰快捷，每等位線8～10點，然后連接即可。