渦測厚儀 型號:TX-ED400

 TX-ED400型渦測厚儀是TX-ED300型測厚儀的改型，儀器性能大幅度提。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施現(xiàn)場對產(chǎn)品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于檢驗、驗收檢驗和質量監(jiān)督檢驗。
      儀器符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦法》。
儀器點
       TX-ED400型渦測厚儀與TX-ED300型相比，具有如下點：
＊量程寬   TX-ED400型的量程達到0～500μm。
＊度   TX-ED400型的測量度達到2%。
＊分辨率   TX-ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便   只校正“0"和“50μm"兩點，即可在量程范圍內保證度。
＊基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
   誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提   采用集成度、穩(wěn)定性電子器件，電路結構優(yōu)化，儀器可靠性
   提。
＊穩(wěn)定性提   采用的溫度補償，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
   校正次可在現(xiàn)場長期使用。
＊探頭線壽命長   采用德口的，在德測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
   可大大延長。
＊探頭芯壽命長   采用強度磁芯材料，微調了探頭，探頭芯壽命可大大延
   長。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測量范圍：     0～500μm
測量度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g