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微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀/微機(jī)塞曼效應(yīng)儀 型號(hào)：HN-JWG-III
| 產(chǎn)品介紹： |
| 塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)是大學(xué)物理中的個(gè)實(shí)驗(yàn)，許多院校都正在開設(shè)或準(zhǔn)備開設(shè)。以往塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的觀測(cè)方法各有缺陷，因此我們重新了塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的光學(xué)件和光路，采用了CCD攝像頭和圖像采集卡與微機(jī)相連，構(gòu)成微機(jī)化塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀，不僅克服了以往實(shí)驗(yàn)方法的缺點(diǎn)，而且干涉條紋清晰、明亮、對(duì)比度好、噪聲低，大大提了實(shí)驗(yàn)的可觀測(cè)性和操作的方便程度。 本儀器為塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的更新?lián)Q代產(chǎn)品，它利用光電機(jī)的機(jī)化與計(jì)算機(jī)，提塞曼實(shí)驗(yàn)儀的現(xiàn)代化程度。由于采用的靈敏度及分辨率的CCD圖像傳感器，既可把塞曼效應(yīng)的干涉圖像在監(jiān)視器屏幕上顯示，又可通過(guò)圖像卡數(shù)字化入微機(jī)，在顯示器上顯示圖像，通過(guò)心編制的塞曼效應(yīng)分析軟件可從屏幕上測(cè)量干涉條紋直徑，而求出電子荷質(zhì)比和實(shí)驗(yàn)誤差，而且還可將結(jié)果及圖像輸出打印。 本儀器點(diǎn)： 1、可實(shí)現(xiàn)塞曼效應(yīng)的干涉圖樣的快速采集與分析，節(jié)約實(shí)驗(yàn)時(shí)間。 2、直觀性好、可靠性好，圖像明亮清晰反差大，不用在暗室內(nèi)作。 3、儀器調(diào)節(jié)方便、簡(jiǎn)捷、作量小、減少了該實(shí)驗(yàn)的難度。 4、消耗材料少，節(jié)約實(shí)驗(yàn)費(fèi)用。 5、易于控制，便于自動(dòng)化處理。 6、也可做縱向塞曼效應(yīng)的觀察。 7、本儀器的磁場(chǎng)裝置為*磁鐵，磁場(chǎng)強(qiáng)度、體積小、重量輕，便于作攜帶。 |
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